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2012年中国质量检测分析技术及测量测试仪器仪表展览会

2012年中国质量检测分析技术及测量测试仪器仪表展览会

2012.05.31~2012.06.03  上海

展位号:W5-B08

 

此次展会WENZEL公司向观众推出了全系列的测量解决方案,从传统的桥式LH系列三坐标到工业计算机断层扫描技术exaCT-MexaCT-XS,同时也展示了全新生产型光学高速测量系统CORE-M

 

-- LH系列桥式三坐标测量机是缜密机械结构的设计以及对细节孜孜不倦追求的结果,是机械精度与精湛技术的融合。LH系列桥式三坐标测量机可以配备不同类型得接触式与非接触测头,从固定式到全自动可旋转测头,从一般通用的测头到超高精度的测头,为每个可能面临的测量挑战提供优异的解决方案。

--exaCT-M 新一代的工业计算机断层扫描技术,可实现非接触式、非破坏性的三维物体测量,能够同时测量物体的内部和外部结构。它将Volumetrik的体积扫描技术与WENZEL Grroup 的坐标测量技术结合。

--exaCT-XS 该款机器的应用领域在于需要用到复杂内部结构三维数据的测量和测试。只要一次扫描,即可实现一系列的后续评价,例如材料缺陷分析、尺寸测量、CAD数目对比、逆向工程技术和工具优化。

--CORE-M 这款光学高速测量系统非常适合在生产加工环境的恶劣条件下进行使用。CORE-M具有非常优良的温度稳定性,以及抵御环境污染与振动的特点。这款6轴测量系统的高动态直线电机和扎实的机械结构使高速测量成为了现实。

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