『软件实操教程』温泽WM | Quartis软件特征测量——“圆”的图文详解
WM | Quartis是温泽功能丰富、可靠、便捷的测量软件。温泽的WM | Quartis为所有工业应用提供了新一代的创新测量软件，它具有清晰、灵活和以结果为导向的用户界面。系统可以更快、更容易地生成测量报告。本教学方案将聚焦于圆的测量这一基础功能，从软件界面操作到测量参数设置，系统化指导用户完成完整的测量流程，帮助用户充分发挥WM | Quartis在提升检测效率和结果可靠性方面的优势。
我们以圆这个三坐标检测中最常见的元素为例来说明Quartis中的特征测量。
首先打开Quartis软件，选择测量 → 圆
一，几何参数设置：
1：在模型上拾取理论值，也可以直接手输理论值；
2：无模型的情况下，手动预采点得到理论值；
3：内外圆切换按钮；
4：将当前红宝石球的位置设置成圆心；
5：确认当前标称值。
关于参照，首先要理解圆特征在软件中属于一个二维特征，它是位于某一个特定平面内的，这个特定平面就是我们所说的参照，软件会将实际测点按照参照的方向（ijk）将空间中的实际测量点投影在参考平面内，然后再根据算法（高斯，切比雪夫，最大内切，最小外接）计算出圆心和圆的直径。
Quartis软件提供了6种参考供客户选择：
1：标称值，将被测特征的理论方向（ijk）作为参考方向；
2：参照元素，软件会根据将参照元素的方向（ijk）来作为参考方向
3：以当前坐标系的坐标平面XY面作为参考平面/方向；
4：以当前坐标系的坐标平面YZ面作为参考平面/方向；
5：以当前坐标系的坐标平面ZX面作为参考平面/方向；
6：在测量被测圆之前，软件会在圆附近测量一个实际平面，然后将测得平面得方向作为参考方向。如图，测量CIR_3之前会预先在圆上表面测量一个平面。
相对参考：当被测特征的变形量比较大时，用一个已经测量的特征来引导CMM在实际位置进行测量，见下图。
相对参考的三种设置：
1：无相对参考，元素直接在当前坐标系下按照理论位置测量。
2：有参考元素，按照参考元素的偏移量，来调整被测元素的位置。
3：按照输入量直接调整被测元素的位置。
材料厚度补偿：可选择测点补偿或者基准补偿。
算法选择：默认最小二乘（高斯）。切比雪夫又称最小区域法，形状误差默认用此算法。
杂散点：通过拉依达法则去除粗大误差，用于扫描测量，点数比较多的情况
∣xi−μ∣>3σ
xi ：某一个具体测量点偏差
μ：均值，所有测点偏差平均值
σ：标准差
因子：超过几倍的标准差
迭代：迭代次数，去除一次粗大误差后，重新计算样本的均值和标准差，再过滤一次粗大误差。
中间值法：利用窗口宽度来去除杂散点的一种方式，在扫描过程中，有一个测点的偏差发生了突变。
过滤：有三种方式可供选择，用于扫描测量。
无：不过滤。
自适应：低通过滤器，就是让低频通过，一般得到的是轮廓度。过滤特性会根据点密度自动设置。
高斯：两种方式CWL和W/C.
CWL：按照步长进行过滤，用于单曲线、直线等特征。
W/C：按照每圆周多少个波动来进行过滤，用于圆，圆柱等特征。
注意，软件中默认每个波动至少需要7个测点，如果CWL是0.8，你扫描一条线的长度是8mm，那么这条曲线总共至少需要70个测点，如果扫描一个圆，设置W/C为50，那么至少需要350个测点。
否则，软件会弹出如下提示：
过滤参数如何选择？
不同波长下的过滤效果如图所示，简单理解，你如果想获得粗糙度（微观），那波长就需要很小（高通过滤~高频通过），如果是轮廓度（宏观）波长就大（低通~低频通过）。
二，分布设置：
这个界面较为简单，主要是对测点、深度、角度、安全平面设置。
三，编辑设置：
对已生成的测点和中间点进行编辑操作，删除、增加或者修改。
四，特性设置：
针对该元素的公差设置，测量结束即评价。
点击小箭头，进入公差设置。
动态的：不勾选此项，特征始终在它当时评价的系统中评价，勾选此项，特征会根据坐标系的变化而变化。例如一个圆，在1号坐标系下面测量，理论值（10，10，0）实际坐标（10.1，10，0）那么在1号坐标系下，它X轴偏差为0.1，如果我们用该圆的圆心建立了2号坐标系，那么在2号坐标系下它的实际坐标和理论坐标一致，都是（0，0，0），X轴的偏差就是0，不勾选动态的，圆在1号坐标系下评价过，那么它始终为0.1.勾选了动态的，那么它在1号坐标系下就是0.1，载入2号坐标系，X轴偏差就是0.
五，重复设置：
手动：用户可直接在模型上拾取多个不同的圆，软件会根据设置的深度、点数、安全平面等参数来生成一组测量特征，方便快捷。
网格：将被测特征按照XYZ轴向阵列
圆：以指定的圆心和角度阵列特征。
完成上述设置后，点击开始按钮，机器就开始自动测量